超聲檢測(cè)Ⅰ級(jí)NB/T47013.3－2015標(biāo)準(zhǔn)單項(xiàng)選擇題每日一練(2019.10.04)

A、缺陷第一次反射波F1波幅高于距離－波幅曲線
B、雙晶探頭檢測(cè)時(shí)，缺陷第一次反射波F1波幅大于或等于顯示屏高度的50%
C、底面第一次反射波B1波幅低于顯示屏高度的50%，即B1＜50%
D、以上都是

A、150mm
B、90mm
C、120mm
D、100mm

A、外圓面徑向縱波探測(cè)
B、外圓面周向橫波探測(cè)
C、外圓面軸向橫波探測(cè)
D、以上都是

A、0.5－1MHz雙晶直探頭
B、1－5MHz雙晶直探頭
C、2.5MHz單晶直探頭
D、5MHz單晶直探頭

A、要求焊縫余高磨平
B、要求橫向缺陷檢測(cè)
C、要求母材檢測(cè)
D、A和C