A、缺陷第一次反射波F1波幅高于距離-波幅曲線 B、雙晶探頭檢測(cè)時(shí),缺陷第一次反射波F1波幅大于或等于顯示屏高度的50% C、底面第一次反射波B1波幅低于顯示屏高度的50%,即B1<50% D、以上都是
A、150mm B、90mm C、120mm D、100mm
A、外圓面徑向縱波探測(cè) B、外圓面周向橫波探測(cè) C、外圓面軸向橫波探測(cè) D、以上都是
A、0.5-1MHz雙晶直探頭 B、1-5MHz雙晶直探頭 C、2.5MHz單晶直探頭 D、5MHz單晶直探頭
A、要求焊縫余高磨平 B、要求橫向缺陷檢測(cè) C、要求母材檢測(cè) D、A和C