問答題

晶圓測試是利用測試測試機(jī)臺、探針臺、探針卡之間的組合來測試晶圓上每一個芯片。

答案: 晶圓測試是半導(dǎo)體制造過程中非常關(guān)鍵的一步,它主要是在晶圓制造完成后,對晶圓上的每個芯片進(jìn)行電性能測試,以確保它們符合設(shè)計(jì)...
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