在Si的平表面上鍍一層厚度均勻的SiO2薄膜,為了測量薄膜厚度,將它的一部分磨成劈形(圖中AB段),現(xiàn)用波長為600nm的平行光垂直照射,觀察反射光形成的等厚干涉條紋,在圖中AB段共有8條暗紋,且B處恰為一條暗紋,求薄膜的厚度(Si折射率為3.42,SiO2折射率為1.50)。