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單項(xiàng)選擇題

超聲檢測時(shí)，缺陷的特征是指缺陷的（）。

A. 形狀
B. 大小
C. 密集程度
D. 以上都對(duì)

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單項(xiàng)選擇題

對(duì)接焊接接頭斜探頭檢測時(shí)，與主聲束垂直的缺陷，缺陷表面狀態(tài)對(duì)回波高度的影響是（）。

A. 缺陷回波波高隨粗糙度增大而下降
B. 無影響
C. 缺陷回波波高隨粗糙度增大而增大
D. 以上都對(duì)

單項(xiàng)選擇題

使用半波高度法測定小于聲束直徑的缺陷尺寸時(shí)，所測的結(jié)果（）。

A.小于實(shí)際尺寸
B.接近聲束寬度
C.稍大于實(shí)際尺寸
D.等于晶片尺寸

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