單項(xiàng)選擇題

集成測(cè)試時(shí)，能較早發(fā)現(xiàn)底層模塊接口錯(cuò)誤的測(cè)試方法為（）。

A.自頂向下漸增式測(cè)試
B.自底向上漸增式測(cè)試
C.非漸增式測(cè)試
D.系統(tǒng)測(cè)試

你可能感興趣的試題

單項(xiàng)選擇題

以下（）方法能夠有效地檢測(cè)輸入條件的各種組合可能引起的錯(cuò)誤。

A.等價(jià)類劃分
B.邊界值分析
C.錯(cuò)誤推測(cè)
D.因果圖

單項(xiàng)選擇題

將基于功能的和基于實(shí)現(xiàn)的測(cè)試設(shè)計(jì)結(jié)合在一起的測(cè)試，這種測(cè)試是（）。

A.基于故障的測(cè)試
B.灰盒測(cè)試
C.黑盒測(cè)試
D.白盒測(cè)試

<ol id="slm0i"><font id="slm0i"><menuitem id="slm0i"></menuitem></font></ol>

<span id="slm0i"><small id="slm0i"><rt id="slm0i"></rt></small></span>