A.應對位于定量線及定量線以上缺陷作出缺陷類型和性質(zhì)的判斷 B.原則上采用直射波檢測缺陷各參數(shù),掃查靈敏度可根據(jù)需要確定,但不得使噪聲回波高度超過滿屏的20% C.只須對位于判廢線及以上的缺陷進行各項參數(shù)測得 D.只須對新產(chǎn)生的缺陷進行各項參數(shù)測定
A.掃查靈敏度不低于Φ2-12dB B.當板厚<40mm,采用單面雙側(cè),利用直射波和反射波檢測 C.斜探頭入射點可在CSK-ⅠA試塊上測試 D.掃描線比例可用CSK-ⅠA試塊測試
A.應測定缺陷尺寸,判斷出缺陷類型和缺陷性質(zhì) B.應測定缺陷尺寸,判斷出缺陷類型 C.對位于定量線及定量線以上的缺陷測定缺陷尺寸(指示長度、高度)、波幅,并定出級別 D.對位于定量線及定量線以上缺陷測定出缺陷尺寸(指示長度)、波幅,并定出級別