A、 B、 C、 D、
A、±(1×10-6×量程+2×10-6×讀數) B、±(1×10-6×量程±2×10-6×讀數) C、±1×l0%×量程±2×10-6×讀數 D、1×10-6×量程±2×10-6×讀數
A、用于檢定、校準和檢測的設施和環(huán)境條件,應符合所開展項目的技術規(guī)范或規(guī)則所規(guī)定的要求 B、在機構固定設施以外的場所進行抽樣、檢定、校準和檢測時,可適當降低環(huán)境條件的要求 C、機構應監(jiān)測、控制和記錄環(huán)境條件 D、對影響檢定、校準和檢測質量的區(qū)域的進入和使用加以控制