如下圖所示,一平面簡諧波以波速u沿x軸正方向傳播,O為坐標原點。已知P點的振動方程為,則()
A.O點的振動方程為; B.波的表達式為; C.波的表達式為; D.C點的振動方程為。
制造半導體元件時,常常要精確測定硅片上二氧化硅薄膜的厚度,這時可把二氧化硅薄膜的一部分腐蝕掉,使其形成劈尖,利用等厚條紋測出其厚度。已知Si的折射率為3.42,SiO2的折射率為1.5,入射光波長為589.3nm,觀察到7條暗紋(如圖所示)。問SiO2薄膜的厚度h是多少?(提示:最后一條暗條紋下的高度正是SiO2薄膜的厚度)