單項(xiàng)選擇題

THDS（哈科所）探測站熱靶鍍膜損傷時(shí)，影響（）。

A.探測角度
B.保護(hù)門打開
C.保護(hù)門關(guān)閉
D.探測精度

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單項(xiàng)選擇題

THDS（哈科所）探測站，紅外軸溫探測系統(tǒng)內(nèi)探探頭在晴朗天空下，天空值出現(xiàn)高值，有可能是（）所致。

A.陽光干擾
B.軸溫高
C.軸溫低
D.探頭異常

單項(xiàng)選擇題

THDS（哈科所）探測站的前放板前面的測量端子用于測量環(huán)溫電路、（）的輸出。

A.磁鋼電路
B.探頭電路
C.環(huán)溫電路
D.板溫電路

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