單項選擇題

（）是影響硅器件成品率的一個重要因素，也是影響器件性能的穩(wěn)定性和可靠性的重要因素。

A.點缺陷
B.線缺陷
C.面缺陷
D.微缺陷

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單項選擇題

用冷熱探筆法測量（）半導(dǎo)體時，冷端帶正電，熱端帶負電。

A.P型
B.N
C.PN型
D.以上皆不是

半導(dǎo)體材料的電阻率與（），以及載流子遷移率有關(guān)。

答案：載流子的濃度