A、資料準(zhǔn)備 B、測(cè)圖規(guī)范及圖式 C、控制點(diǎn)成果整理 D、擬定技術(shù)計(jì)劃書
A、三等引據(jù)水準(zhǔn)點(diǎn)閉合水準(zhǔn)測(cè)量 B、高程自校系統(tǒng)閉合水準(zhǔn)測(cè)量 C、三等引據(jù)水準(zhǔn)點(diǎn)附合水準(zhǔn)測(cè)量 D、附近高程固定點(diǎn)聯(lián)測(cè)
A、重復(fù)測(cè)量 B、高程自校系統(tǒng)閉合水準(zhǔn)測(cè)量 C、附近高程固定點(diǎn)聯(lián)測(cè) D、新測(cè)高程與原應(yīng)用高程之差超過允許限差